前两篇博文《干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析》（

http://happytesting.spaces.eepw.com.cn/articles/article/item/97585）和《主要的高速串行接口技术及测试解决方案》（http://happytesting.spaces.eepw.com.cn/articles/article/item/97737）分别分析了可能会对传输信号质量造成损害的因素和典型的高速串行数据测试过程，以及当前主要的高速串行标准和对应的泰克测试解决方案。本文将具体介绍相关测试解决方案相关设备和选项的主要功能特性，供从事相关设计测试工作的朋友们参考。

最新的串行技术比上一代技术速度更快，而且通常更加复杂，要求测试设备具备更强的性能和更广泛的分析能力。泰克产品能够满足这些需求，而其串行数据测试和测量解决方案的应用领域覆盖了从芯片制造商到产品集成商的整个产品开发价值链。

新一代泰克测量工具包括实时示波器、采样示波器、差分探测、逻辑分析仪和信号源，可以协助工程师应对串行数据测量的挑战。这些下一代仪器和应用程序软件共同构成针对高速串行数据的一整套新测试平台的解决方案。解决方案卓越的性能，确保可以捕捉、显示和分析最复杂和最富挑战性的串行数据信号。关注高速串行数据测试，你应该熟悉以下这些主流的设备方案。

实时示波器

泰克实时示波器使工程师能够捕捉数千兆范围内的连续数据，并具有优良的信号保真度。实时示波器已成为串行数据分析和测试的理想工具。

Tektronix DPO/DSA70000B 数字荧光示波器和串行分析仪提供超高带宽和采样速率，可以实时采集数据并具有很低的抖动噪底性能，非常适用于精确定时和抖动测量。同步实时采样为多通道串行数据的测试提供了有至关重要的采集灵活性。自定义串行数据功能可扩展到高速串行触发，时钟恢复和协议解码，以及针对多个行业标准的一致性测试。DSA70000B 将最全面的串行数据调试和分析功能与行业最先进的示波器硬件平台结合在一起。

DPOJET 串行一致性测试和分析软件是所有 DSA70000B 机型的标准配置，也是数字荧光示波器（DPO）机型的选购配件。完备的分析功能将示波器主机转化为功能强大的自动化验证和一致性测试平台，其功能包括了软件时钟恢复、眼图以及一整套幅度、定时和抖动的特定标准参数测量，因此非常适用于数据传输率高达 10 Gb/秒串行标准的测试。

此外，这些方案所支持的特定一致性测试选项还包括：

·         PCI Express 一致性测试

·         FB-DIMM 一致性测试

·         SATA 和 SAS 分析一致性测试

·          InfiniBand 一致性测试

·          DDR2/3， GDDR，LPDDR验证测试

泰克另外还提供了针对 HDMI、DisplayPort、超宽带、以太网和 USB 的分析和测试软件套件。这些软件解决方案支持各标准中定义的整套测试要求，能够为多个设计小组及供应商提供快速、可重复的测试结果。

超宽频采样示波器

泰克采样示波器是超宽频段仪器，它们能将最低的垂直噪音和最佳抖动与定时性能相结合，提供高精度波形测量结果。由于泰克采样示波器卓越的技术性能和广泛的测量与分析功能，这些设备被广泛地视为测量千兆串行数据元件、收发器和传输系统的最佳测试标准。

DSA8200 是高度模块化的采样示波器，可以运用于光信号和电信号测试，并能实现准确的信号特征描述，灵活的时钟恢复和扩展分析。通过与 80SJNB 分析软件相结合，DSA8200 能够对 1 Gb/s 到 60 Gb/s 的数据传输率提供全方位的抖动、噪声和比特误码率（BER）分析。

在时域和频域中准确分析信号和互连性能，全面理解当今高速串行设计中信号损耗和串扰的影响至关重要。PCI Express、串行 ATA、XAUI 和 Infiniband 等业界标准越来越需要使用 S 参数和阻抗测量来描述这些影响的特征并确保系统的互操作性。业界领先的差分时域反射（TDR）性能支持对 S 参数频率特性进行复杂的网络分析。 

IConnect 软件为 DSA8200 提供扩展的信号完整性分析。IConnect 测量插入损耗和回波损耗、反射，显示眼图，并帮助实施和显示抖动、串扰、反射和振铃测量。应用范围包括信号完整性分析、阻抗特征描述、S 参数测量、眼图一致性测试以及故障隔离。

探测

泰克探测装置提供从被测设备（DUT）到仪器的关键路径的解决方案。对于低电压差分信号，泰克探头拥有真正的差分性能，并针对信号保真度进行优化，最大限度地减少线路上的信号干扰。 

P7300 和 P7500 系列高频有源探头，连接灵活方便，线路负载低。便捷的互连组合系统亦支持多种 DUT 应用。

P7300SMA 系列高频段 SMA 差分探头，可提供 50 欧姆直接电缆输入。 SMA 直接电缆输入，支持串行数据测试夹具和普通模式 的DC 电压输入，可以与实时示波器一起配置用于多通道采集。 

信号源

泰克信号发生器能够产生模拟现实世界中的信号。如果用户需要尽可能真实地模拟这些条件，可编程信号源将是正确工具。而要产生于当今的数据传输率相当的真实信号，用户需要的是高速信号源，如任意波形发生器（AWG）或数据定时生成器（DTG）等。

AWG7000B 系列使设计人员能够直接开发高速串行数据总线，创建、复制和生成理想、失真或者真实的信号，包括有噪声、抖动、干扰和其他异常的信号。AWG7000B 可以产生任何真实的波形，以及生成不良信号，或者重放实际捕获的信号，包括信号噪音、抖动、预加重和去加重以及高达 10-Gbits/s 的多级信号。

DTG5000 系列将数据发生器和脉冲发生器的功能相结合。这些仪器能够生成低抖动、高精度时钟信号，多个通道的并行或串行数据，而且能够产生串行数据速率高达 3.35 Gb/s。

逻辑分析仪

泰克逻辑分析仪为验证硬件和软件子系统之间性能和交互作用提供了测量方式。在串行数据系统中，这通常是指物理、逻辑和传输层之间的交互作用。逻辑分析仪可以捕获双向流量，并可分析传输，检测链路转换和流控制。  

TLA7000 系列逻辑分析仪所具有的性能、触发和解码功能，可以简化设计验证过程，并可对串行数据进行解码，恢复嵌入式时钟以及触发特定的数据特性。大型台式机能够扩展支持多个总线的时间相关分析。对于更多复杂的信号完整性挑战，TLA7000 可通过使用 iView 软件和互连硬件与泰克示波器相结合，来获取并创建数字和模拟波形的时间关联视图。 

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