特邀博主Faride Akretch

在调试嵌入式系统时，问题经常会回溯到异常信号，这个信号会导致一连串事件，最终导致系统故障。异常信号极有可能源自整个设计内部的某个地方。
 

我们通常假设你的设计遇到问题，可以回溯到数字信号，这个数字信号在某种情况下应该读为低或0，但实际却读为高或1。看一下这个信号的模拟特点，它是一个欠幅脉冲，这个脉冲的幅度要小于正确运行规定的最小电平。尽管这些信息非常实用，但问题仍然是：这个欠幅脉冲来自于哪里？其根本原因是什么？

这就需要触发。第一步是触发欠幅脉冲，浏览系统其余部分，查看许多不同的测试点，了解哪些原因可能会导致欠幅脉冲发生。在采用RF的嵌入式系统中，可能能够在时域中或在频域中看到原因。如果欠幅脉冲是由RF异常信号导致的，那么它将显示什么时候触发欠幅脉冲，同时在频域中不同测试点上捕获数据，显示有问题的RF信号，并全部实现时间相关。

从这里，你可以触发RF突发，浏览系统，找到可能导致错误的RF突发的相关数字信号、模拟信号或数字信号与模拟信号。关键在于触发系统必须能够同时触发所有通道，不管是在时域中还是在频域中，并显示时间相关的结果。

由于混合域示波器把频谱分析仪集成到基于时域的采集系统中，可以在多个域中及在仪器的所有模拟通道、数字通道和RF通道中触发采集过程，如下面的屏幕截图所示。在RF一侧，可以使用输入作为触发源，不仅在输入的整体功率电平上支持边沿触发，还支持许多其它触发类型，如超时触发、顺序触发(B触发)、脉宽触发、欠幅脉冲触发或逻辑触发，以及其它模拟输入和数字输入。

在多个域中全面查看系统对当前嵌入式设计至关重要，这需要触发和捕获信号，而不管信号的模拟特点、数字特点或RF特点。在时域和频域中对所有信号实现时间相关，可以全面了解整个系统的原因和结果。跨域触发标志着测试设备的根本性变革，为调试设计问题打开了新的道路。如果你对这一功能的使用方式有更多的想法，请把你的想法告诉我们。

Faride Akretch现任泰克公司技术市场经理。他拥有近20年的行业经验，先后在德国、日本和美国担任多种职位，包括应用工程师、产品市场专员、业务和市场拓展专员。他毕业于柏林理工大学电气工程/电子专业，获得硕士学位。

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